.

0 (hodnocen0 x )

(1) Půjčeno:1x 

BK

Příručka

1. vyd.

Praha : Sdělovací technika, 2002

254 s.,[24] s.příl. : il.

ISBN 80-901936-8-4 (brož.)

Obsahuje ilustrace, fotografie, tabulky, grafy, slovníček a zkratky, rejstřík

Bibliografie: s. 235-236

Osciloskopy - příručky

000073789

Slovo na úvod 5 // 1. Analogové osciloskopy 7 // 1.1 Vstupní impedance a zeslabovač // Vstupní obvod 7 // Zeslabovač 8 // 1.2 Předzesilovač 9 // Zapojení předzesilovače 9 // Stabilita a šum 12 // Kanály osciloskopu, zásuvkové osciloskopy 13 // 1.3 Multiplex 14 // 1.4 Zpožďovací vedení 17 // 1.5 Vertikální koncový zesilovač 17 // Požadované vlastnosti 17 // Zapojení vertikálních koncových zesilovačů 17 // 1.6 Obrazovka 21 // Konstrukce obrazovky 22 // Vychylování elektronového paprsku 23 // Chyby zobrazení 26 // Psací rychlost, poméfové obrazovky 27 // 1.7 Kmitočtový rozsah 29 // 1.8 Spouštění 31 // Režimy spouštění 31 // Vazba spouštěcího signálu 32 // Zádrž, hold-off 34 // Spouštění televizním signálem 35 // Citlivost a fázová nejistota 37 // Kanál spouštěcího signálu - trigger viev 38 // Spouštěcí obvody 39 // 1.9 Časová základna 40 // Generátory pilových průběhů 40 // Vlastnosti časové základny 42 // Druhá časová základna 44 // 1.10 Horizontální zesilovač, zobrazení XY 47 // 1.11 Výstupní signály 48 // 1.12 Přídavné vlastnosti 48 // Automatické nastavení osciloskopu 49 // Zprávy no obrazovce 49 // Kurzory 49 // Paměti pro nastavení osciloskopu 50 // Automatické zaostřování stopy a nastavení jasu 51 // Připojení fotografické kamery 51 // Voltmetr, čítač 52 // Rozměry analogových osciloskopů 52 // 1.13 Napájení 52 // 1.14 Současné analogové osciloskopy 53 // 2. Vzorkovací osciloskopy 57 // 2.1 Vývoj vzorkovacích osciloskopů 57 // 2.2 Vzorkování 62 // 2.3 Průchozí vzorkovač 66 // 2.4 Vzorkovací osciloskop s postupným vzorkováním 68 // 2.5 Vzorkovací osciloskop s náhodným vzorkováním 70 // 2.6 Použití vzorkovacích osciloskopů 72 // 3. Digitální paměťové osciloskopy 75 // 3.1 Digitální paměfové osciloskopy včera a dnes 75 //

3.2 Obvody digitálního pamětového oscilosl<opu 77 // 3.3 Vzorkování с digitalizace 79 // 3.4 Způsoby vzorkování 83 // Vzorkování v reálném čase 83 // Vzorkování v ekvivalentním čase 86 // Reálný a analogový kmitočtový rozsah 88 // Akviziční pamèf, aliasing 92 // 3.5 Způsoby sběru dat 96 // Detekce špiček, obálko 96 // Průmérovóní 99 // Interpolace 101 // Efektivní bity 103 // 3.6 Časová základna 105 // Zoom 106 // Režim XY 107 // 3.7 Spouštění 108 // 3.8 Automatické nastavení, paměfové prostředky 111 // 3.9 Displej 114 // Obrazovka s magnetickým vychylováním 115 // Displej LC o TFT 116 // Dosvit 118 // 3.10 Kurzory, automatické měření 122 // Kurzory 122 // Automatické měření, masky 123 // FFT, histogramy 125 // 3.11 Ostatní vlastnosti 126 // Zprávy na displeji 127 // Kalibrační signál 127 // Rozhraní 127 // Omezení kmitočtového rozsahu 128 // Přepínání vstupní impedance 128 // 3.12 Osciloskopové karty do PC, moduly VXI 128 // 3.13 Volba digitálního pamětového osciloskopu 129 // 4. Pasivní sondy 131 // 4.1 Přímé připojení objektu к osciloskopu 131 // 4.2 Použití pasivních sond s velkým vstupním odporem 132 // 4.3 Použití pasivních sond s malým vstupním odporem 140 // 4.4 Kompenzace pasivních sond 142 // 4.5 Oddělovací sondy 10 Míl/50 Í2 149 // 4.6 Diferenciální pasivní sondy 150 // 4.7 Výběr pasivních sond 151 // 5. Aktivní sondy a proudové sondy 153 // 5.1 Aktivní sondy 153 // 5.2 Aktivní diferenciální sondy 158 // 5.3 Proudové sondy 160 // 6. Stejnosměrná a stiídavá vazba, odezva osciloskopu 167 // 6.1 Stejnosměrná a střídavá vazba na vstupu osciloskopu 167 // 6.2 Odezva osciloskopu 169 // 7. Měření v koaxiálních obvodech 171 // 7.1 Koaxiální kabely, zpoždbvací vedení 171 // 7.2 Měření na trasách s impedancí 50 £i 173 //

8. časová reflektometrie 181 // 8.1 Časové reflektometry 181 // 8.2 Průběhy na vedení se zátěží 182 // 8.3 Použití časové reflektometrie 187 // 9. Zobrazení XY 193 // 9.1 Srovnávání kmitočtů, Lissajousovy obrazce 193 // Fázový úhel 194 // Hloubka modulace 194 // Nulový indikátor 19? //9.2 Měření voltampérových charakteristik 195 // Měření diodových charakteristik 196 // Měření voltampérových charakteristik tranzistorů 197 // 9.3 Měření hysterezní smyčky 198 // 10. Kalibrace osciloskopů 201 // 10.1 Přesnost odečítání na displeji 201 // 10.2 Předběžná kontrola osciloskopů 201 // Vnější prohlídka 201 // Kontrola provozuschopnosti 202 // 10.3 Kmitočtový rozsah osciloskopu 203 // 10.4 Odezva, překmit o podkmit 204 // 10.5 Citlivost vertikálního zesilovače 207 // 10.6 Vstupní odpor vertikálního zesilovače 208 // 10.7 Vstupní kapacita vertikálního zesilovače 209 // 10.8 Poměr stojatých vln no vstupu vertikálního zesilovače 209 // 10.9 Zpoždění mezi kanály 212 // 10.10 Odstup mezi kanály 213 // 10.11 Sum vertikálního zesilovače 213 // 10.12 Časová základna 214 // Přesnost časové základny 214 // Linearita časové základny 214 // 10.13 Spouštění 215 // Citlivost vnitřního spouštění 215 // Citlivost vnějšího spouštění 216 // Fázová nejistota spouštění 217 // 10.14 Horizontální kmitočtový rozsah 218 // 10.15 Citlivost horizontálního zesilovače 218 // 10.16 Kalibrátor 219 // 10.17 Měření sond 220 // Kmitočtový rozsah sondy 221 // Odezva sondy 221 // Vstupní odpor sondy 222 // Vstupní kapacita sondy 223 // 10.18 Vyhodnocení kalibračního měření 223 // 11. Osciloskop Tektronix TD7404 225 // 11.1 Vlastnosti osciloskopu 225 // Vertikální zesilovače 225 // Časová základna a spouštění 226 // Sběr dat 227 //

Měření průběhů a výpočty 227 // Ostatní parametry 227 // 11.2 Test osciloskopu 228 // Vertikální zesilovače 229 // Časová základna a spouštění 230 // Další parametry 230 // 11.3 Hodnocení 231 // Na závěr i33 // Literatura 135 // Seznam znaků 137 // Slovníček a zkratky 139 // Rejstřík 145 // Obsah 151