.

0 (hodnocen0 x )

(0.7) Půjčeno:8x 

BK

1. vyd

Praha : SPN, 1967-1974

3 sv. : il. ; 24 cm

Učebnice pro vysoké školy

I. 1967. 523 s. -- II, Část A. 1974. 295 s. -- II, Část B. 1974. S. 301-756.

000124488

DÍL II - zkrácený obsah : ČÁST A // 1. Měření základních veličin (A. Havránek) // 1.1 Délka 13 // 1.1.1. Měření malých délkových změn 13 // 1.1.2. Absolutní měření délek 19 // 1.2. Čas 25 // 1.2.1. Časové standardy 25 // 1.2.2. Měření krátkých časových intervalů 26 // 1.3. Hmotnost 33 // 1.3.1. Váhy nejvyšší relativní přesnosti 34 // 1.3.2. Váhy nejvyšší citlivosti 34 // 1.3.3. Speciální postupy vážení 36 // 2. Měření a regulace teploty (V. Müller) // 2.1. Stabilisace a regulace teploty 38 // 2.1.1. Stabilní teplotní body 38 // 2.1.2. Regulace teploty 44 // 2.2. Získávání a méření velmi nízkých a velmi vysokých teplot // 2.2.1. Získávání velmi nízkých teplot a jejich měření // 2.2.2. Získávání vysokých teplot a jejich měření // 3. Nízké tlaky (I. Pátý) // 3.1. Získávání nízkých tlaku // 3.1.1. Princip získávání nízkého tlaku, pokles tlaku v čase a čerpací rychlost // 3.1.2. Proudění ve vakuových systémech a analogie systému s elektrickým obvodem // 3.1.3. Metody získávání nízkých tlaků. Vývěvy // 3.1.4. Vakuové aparatury // 3.2. Měření nízkých tlaků // 3.2.1. Měření celkových tlaků // 3.2.2. Měření parciálních tlaků // 3.2.2.1. Hmotové spektrometry k měření parciálních tlaků // 3.2.3. Metody měření tlaku nasycených par // 3.2.4. Měření proudu plynu při nízkých tlacích // 4. Mikrovlnná technika (R. bakule) // 4.1. Vedení elektromagnelických vln vlnovody // 4.1.1. Veličiny charakterisující vlnovod // 4.1.2. Zvláštní druhy vlnovodů // 4.1.3. Převodové vlastnosti vlnovodu // 4.1.4. Stojaté vlny ve vlnovodu // 4.2. Prvky mikrovlnných aparatur // 4.2.1. Generátory velmi vysokých kmitočtů // 4.2.2. Vazební prvky // 4.2.3. Zeslabovače // 4.2.4. Rozvětvené dílce 113 // 4.2.5. Dutinové resonátory 115 //

4.2.6. Držák diody 117 // 4.2.7. Bolometry 117 // 4.2.8. Měřicí vedení 117 // 4.2.9. Normály impedance 119 // 4.3. Vybraná mikrovlnná méření 120 // 4.3.1. Měření kmitočtu 120 // 4.3.2. Měření impedancí měřicím vedením 121 // 4.3.3. Měření impedancí můstkovým T 124 // 4.3.4. Stanovení činitele jakosti dutinových resonátorů 125 // 5. Optická mikroskopie (z. berger) // 5.L. Mikroskop 128 // 5.1.1. Osvětlovací systém mikroskopu 132 // 5.2. Mikroskopie 134 // 5.2.1. Mikroskopie neprůhledných objektů 134 // 5.2.2. Osvětlení metodou temného pole 134 // 5.2.3. Polarisační mikroskopie 138 // 5.2.4. Mikroskopická metoda fázového kontrastu 141 // 5.2.5. Interferenční mikroskopie 145 // 5.2.6. Fluorescenční mikroskopie 149 // 5.2.7. Mikrofotografie 150 // 6. Spektroskopie a difrakce rentgenového záření // 6.1. Rentgenová spektroskopie (J. Šedivý) 155 // 6.1.1. Rentgenové záření 155 // 6.1.2. Zdroje rentgenového záření 156 // 6.1.3. Registrace rentgenového záření 157 // 6.1.4. Rentgenová spektra 159 // 6.1.5. Primární rentgenová spektroskopie 163 // 6.1.6. Fluorescenční (sekundární) rentgenová analysa 166 // 6.1.7. Absorpční rentgenová analysa 168 // 6.2. Rentgenová strukturní analysa (J. Šedivý, V. Valvoda) 169 // 6.2.1. Základní krystalografické pojmy 169 // 6.2.2. Geometrická teorie difrakce 179 // 6.2.3. Kinematická teorie difrakce 182 // 6.2.4. Dynamická teorie difrakce 189 // 6.2.5. Metoda Debyeova-Scherrerova 191 // 6.2.6. Metoda otáčivého krystalu 210 // 6.2.7. Metoda Laueova 214 // 6.2.8. Některé speciální metody 219 // 7. Elektronová mikroskopie a difrakce // 7.1. Základy elektronové mikroskopie a difrakce 225 // 7.1.1. Základy elektronové optiky (V. Hatěna) 225 // 7.1.2. Elektronový mikroskop a difraktograf (V. Matěna) 231 //

7.1.3. Jevy elektronové difrakce (P. Kratochvíl, V. Matěna) 238 // 7.1.4. Preparační technika (V. Matěna) 250 // 8. Neutronová difrakce (J. Šedivý) // 8.1. Vlastnosti a registrace tepelných neutronů 258 // 8.1.1. Tepelné neutrony 258 // // 8.1.2. Teorie difrakce neutronů 261 // 8.1.3. Užití neutronové difrakce 268 // 9. Hmotová spektrometrie (?. Urgošík) // 9.1. Úkoly hmotové spektrometrie a princip spektrometrii 275 // 9.1.1. Základní pojmy a terminologie 275 // 9.1.2. Iontový zdroj 278 // 9.2. Typy hmotových spektrometrů 280 // 9.2.1. Statické systémy 280 // 9.2.2. Dynamické systémy 285 // 9.2.3. Pomocná aparatura 291 // 9.2.4. Charakteristiky omegatronu 291 // 10. Mechanické vlastnosti látek // 10.1. Úvod (A. Havránek) 309 // 10.1.1. Reologická klasifikace látek 309 // 10.2. Elasticita (A. Havránek) 313 // 10.2.1. Určování elastických koeficientů 313 // 10.2.2. Metody měření deformace 316 // 10.2.3. Rozložení napětí a deformací v tělesech obecného tvaru 322 // 10.3. Viskosita (A. Havránek) 351 // 10.3.1. Nenewtonovské kapaliny 351 // 10.3.2. Metody měření viskosity nenewtonovských kapalin 355 // 10.4. Viskoelasticita (A. Havránek) 357 // 10.4.1. Základní viskoelastické pojmy 357 // 10.4.2. Creep 365 // 10.4.3. Relaxace napětí 367 // 10.4.4. Dynamická měření 369 // 10.5. Plastická deformace kryat’dii (P. LUKÁČ) 377 // 10.5.1. Geometrie plastické deformace monokrystalů 377 // 10.5.2. Stanovení prvků deformace 388 // 10.5.3. Druhy deformace 391 // 10.5.4. Způsoby deformace 395 // 10.5.5. Skluzový obraz 405 // 11. Elektrické vlastnosti látek // 11.1. Elektrické transportní jevy (E. Kužel) 410 // 11.1.1. Úvod 410 // 11.1.2. Měrné metody elektrické vodivosti 421 // 11.1.3. Měření Hallovy konstanty 434 // 11.1.4. Magnetoresistentní jev 440 //

11.1.5. Měření termoelektrických jevů 443 // 11.1.6. Měření kontaktního potenciálu 449 // 11.2. Dielektrická měření (B. Bakule) 454 // 11.2.1. Komplexní permitivita 454 // 11.2.2. Obvody se soutředěnými parametry 456 // 11.2.3. Obvody s rozloženými parametry 471 // 11.2.4. Vyhodnocení dielektrických měření 476 // 11.3. Emisní jevy (L. Eckertová) 482 // 11.3.1. Měření energetického rozdělení elektronů 483 // 11.3.2. Měření úhlového rozdělení emitovaných elektronů 486 // 11.3.3. Termoemise 487 // 11.3.4. Fotoemise 488 // 11.3.5. Sekundární emise 491 // 11.3.6. Autoemise (tunelová emise) 495 // 11.3.7. Desorpce a ionisace polem 499 // 11.3.8. Exoemise 500 // 11.4. Elektrické výboje v plynech (M. Novák) 501 // 11.4.1. Úvod 501 // 11.4.2. Sondová měření 504 // 11.4.3. Vysokofrekvenční metody diagnostiky plasmatu 514 // 12. Magnetické vlastnosti látek // 12.1. Suaceptibilita diamagnetik a paramagnetik (J. Brož) 520 // 12.1.1. Magnetická susceptibilita 520 // 12.1.2. Měření susceptibility slabě magnetických látek 526 // 12.2. Spontánní magnetická polarisace a Curieova teplota (J. ...) 544 // 12.2.1. Magneticky uspořádané systémy 544 // 12.2.2. Měření magnetické polarisace v oboru technického nasycení 54? // 12.2.3. Určení teplotního průběhu spontánní polarisace. Určení absolutní nasycené polarisace 554 // 12.2.4. Měření Curieovy teploty 558 // 12.3. Parametry křivky technické magnetisace 561 (J. Šternberk, B. Sedlák) // 12.3.1. Doménová struktura a magnetisační procesy 561 // 12.3.2. Konstanty magnetické krystalové anisotropie a magfietostrikční konstanty 563 // 12.3.3. Metody pozorování doménové struktury 565 // 12.3.4. Měření anisotropních konstant 571 // 12.3.5. Měření magnetostrikce 575 // 12.3.6. Měření magnetisaěních křivek monokrystalů 578 //

12.3.7. Metody zobrazení magnetisaění křivky 581 // 12.3.8. Měření parametrů ferromagnetik ve střídavých polích 584 // 12.4. Magnetická resonance (B. Sedlák) 592 // 12.4.1. Podstata metody 592 // 12.4.2. Principy detekce 596 // 12.4.3. Metody snímání křivek resonance 605 // 12.4.4. Vliv nehomogenity a nestability magnetického pole 611 // 12.4.5. Poměr signálu a šumu. Meze citlivosti 611 // 12.4.6. Typy spektrometrů 612 // 12.4.7. Příklady použití magnetické resonance ke studiu struktury látek 620 // 13. Optické vlastnosti látek // 13.1. Experimentální optická zařízení (V. Prosser) 637 // 13.1.1. Základní charakteristiky světelné vlny 638 // 13.1.2. Experimentální zařízeni a metody pro vytváření a vyšetřování elipticky polarisovaného světla 640 // 13.2. Optické konstanty a jejich měření (V. Prosser) 649 // 13.2.1. Absorpce, reflexe a disperse — základní vztahy 649 // 13.2.2. Zjišťování optických konstant z měření odrazivosti 654 // 13.2.3. Zjišťování optických konstant z měření propustnosti 661 // 13.2.4. Zjišťování optických konstant z měření rozptýleného světla, zvláště z difusního odrazu 663 // 13.3. Interakce světla s látkou ve vnějších polích (V. Prosser) 666 // 13.3.1. Magnetooptické jevy 667 // 13.3.2. Elektrooptické jevy 672 // 13.3.3. Piezooptické jevy 673 // 13.4. Optická spektroskopie (K. Vacek) 675 // 13.4.1. Světelné zdroje 676 // 13.4.2. Spektrografy a monochromátory 677 // 13.4.3. Detektory 681 // 13.4.4. Vyhodnocení spekter // 13.5. Liminiscence (K. Vacek) 686 // 13.5.1. Fotovodivost 687 // 13.5.2. Elektroluminiscence 692 // 13.5.3. Katodoluminiscence a radioluminiscence 693 // 13.5.4. Termoluminiscence 663 // 13.5.5. Chemiluminiscence a bioluminiscence 693 // 13.5.6. Metody založené na kinetice luminiscence (určení r) 694 //

14. Poruchy krystalové mřížky // 14.1. Bodové poruchy (B. Sprušil) 696 // 14.1.1. Základní metody studia bodových poruch v kovech 698 // 14.1.2. Difuse 767 // 14.2. Poruchy čárové a plošné (P. Lukáč) 709 // 14.2.1. Základní pojmy teorie dislokací 709 // 14.2.2. Poruchy plošné 715 // 14.2.3. Experimentální metody sledovaní dislokací 719 // Literatura 727 // Rejstřík 742

cnb000836277