Úplné zobrazení záznamu

Toto je statický export z katalogu ze dne 11.02.2017. Zobrazit aktuální podobu v katalogu.

Bibliografická citace

.
0 (hodnocen0 x )
ER
El. časopis z www.jib.cz
Elektronický zdroj
ONLINE
Tokyo : Japanese Society of Electron Microscopy, [1953]-©2012.
Oxford : Oxford University Press
Externí odkaz    Plný text (ověřit prostřednictvím SFX Jednotné informační brány) 


1477-9986 * 0022-0744 (chyb.)
Vychází od: Vol. 1, no. 1 (1953); ceased with: Vol. 61, no. 6 (Dec. 2012).
6x ročně, 1987-2012
4x ročně, 1960-1986
Ročenka, 1953-1959
International Conference on High Voltage Electron Microscopy. High voltage electron microscopy
Print version: Journal of electronmicroscopy, ISSN 0022-0744
Plný text je přístupný pouze z počítačů Ostravské univerzity
Some numbers issued in combined form.
Supplements accompany some issues.
Mode of access: World Wide Web.
Text in English, 1953-1959; in English and Japanese, 1960-1972; in English, 1973-
Official journal of: Japanese Society of Electron Microscopy.
Description based on: Vol. 1, no. 1 (1953); title from PDF table of contents (Oxford Journals, viewed Aug. 16, 2013).
Latest issue consulted: Vol. 61, no. 6 (Dec. 2012) (Oxford journals, viewed Apr. 2, 2013).
000230963
(OCoLC)48191593
(SFX)954925413878

Zvolte formát: Standardní formát Katalogizační záznam Zkrácený záznam S textovými návěštími S kódy polí MARC